光損耗是度量光纖接頭質量的重要指標，使用光時域反射儀(OTDR)或熔接接頭的損耗評估方案等測量方法可以確定光纖接頭的光損耗。

　　(1)使用光時域反射儀(OTDR)

　　光時城反射儀，又稱背向散射儀，其原理是: 在光纖中傳輸光脈沖時，由于散射、反射的激量光返回光源側后，可以利用時基來觀察返回光。由于光纖的模場氏徑影響它的后向散射，因此在接頭兩邊的光纖可能會產(chǎn)生不同的后向散射，從而遮蔽接頭的真實損耗。如果從兩個方向測量接頭的損耗，并求出這兩個結果的平均值，便可消除單向OTDR測量的人為因素誤差。然而，多數(shù)情況是操作人員僅從一個方向測量接頭損耗，其結果并不十分準確，事實上，由于具有失配模場直徑的光纖引起的損耗，其結果并不十分準確，事實上，由于具有失配模場直徑的光纖引起的損耗可能比內在接頭損耗自身大10倍。

　　(2)熔接接頭損耗評估

　　某些熔接機使用一種光纖成像和測量幾何參數(shù)的斷面排列系統(tǒng)，通過從兩個垂直方向觀察光纖，計算機處理井分析該圖像半確定包層的偏移、纖芯的畸變、光纖外徑的變化其他關鍵參數(shù)，使用這些參數(shù)來評價接頭的損耗。依賴于接頭和它的損耗評估算法求得的接續(xù)損耗可能和真實的接續(xù)損耗有相當大的差異。

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